在光学系统设计与分析中,光线高度数的控制与光线光扇图的解读是评估成像质量、优化镜头结构的重要手段。Zemax作为全球广泛使用的光学设计软件,提供了强大的光线追迹与图形分析工具,支持工程师高效处理复杂光路结构。然而,很多初学者在使用时常常会问:“Zemax怎么操作光线高度数?”“Zemax光线光扇图怎么分析?”这些问题不仅关乎操作技巧,更关系到对成像误差来源与系统性能的理解。本文将围绕这两个主题,从参数设定、分析方法到实战技巧,系统讲解Zemax中如何操控光线高度数与解读光扇图,助你提升光学系统设计水平。
一、Zemax怎么操作光线高度数
所谓“光线高度数”(Ray Height),是指某条光线在透镜或光学表面处与光轴的垂直距离,是光线追迹分析中的基础参数。Zemax提供了多种方式来控制光线高度,用于定义不同视场角、像面位置或光瞳位置下的光线路径。
下面是具体操作方式:
1.设置视场点(Field Point)实现光线高度控制
在Zemax的LDE(Lens Data Editor)中,点击“Field”页签;
设置视场角(以角度或像高形式):
使用Angle:如0°表示主光轴,10°表示偏轴;
使用Image Height:指定像平面上的位置,如±7mm;
每个视场点将追迹一组不同入射角度的光线,间接控制光线高度。
2.修改Entrance Pupil Parameters控制入瞳位置
打开System Explorer→Aperture→Entrance Pupil;
修改Entrance Pupil Diameter(瞳孔直径)和位置(Pupil Location);
这将影响光线在前组透镜上的入射高度,尤其影响高像差设计。
3.使用特定追迹光线(Paraxial、Real Ray)观察高度数
在Analyze→Ray Trace中选择Paraxial Ray;
或使用Single Ray Trace手动输入位置、角度;
Zemax会返回每个光学面上的光线高度值,供对比与诊断。
4.配合Merit Function或操作脚本控制高度
在Merit Function中使用operand如HAYE(光线高度)追踪特定光线高度;
用于自动优化某个表面光线交点位置;
高级用户可借助ZPL(Zemax Programming Language)动态生成光线组合。
5.调整Aperture Stop与各面Aperture
指定某个光学面为Aperture Stop;
Zemax自动计算该面上下游光线通过时的实际高度;
可通过查看光线追迹表确认是否符合系统光瞳设计。

二、Zemax光线光扇图分析
光线光扇图(Ray Fan)是Zemax中用于分析像差(特别是横向像差和主光线倾斜误差)的核心图表之一,能直观反映不同光线偏离理想成像位置的程度。
1.打开Ray Fan图
进入Zemax;
点击菜单栏:Analyze→Aberrations→Ray Fan;
或点击快捷图标直接生成图表;
可以选择显示纵向(Y)或横向(X)方向的光扇图。
2.Ray Fan图的基本结构
横坐标为光线在瞳面上的高度(通常以pupil fraction表示);
纵坐标为该光线在像面的像差偏移(单位可为mm、µm或波长);
图中多条曲线代表不同视场点(如中心视场、边缘视场);
一条曲线的上下弯曲代表系统存在球差、像散、彗差等。
3.如何解读Ray Fan图
直线性偏移:表明系统中存在倾斜误差或主光线偏心;
抛物线形状:可能是球差或孔径像差;
双峰曲线:典型像散;
明显偏离零线:整体偏心或校准问题;
不同视场点曲线间隔大:系统视场像差显著;
若所有曲线接近水平零线,说明系统像差校正较好。
4.Ray Fan与波前差图的关系
Ray Fan表示的是几何像差;
Wavefront Map则表示光学相位偏差;
两者结合使用,可同时评估光路偏移与波前质量。
5.用Merit Function关联Ray Fan优化结果
可将Ray Fan中的像差偏差数值导入Merit Function(使用operand,如RAYX、RAYY);
进行自动像差校正或优化特定视场点表现;
常用于设计照相镜头、显微镜物镜、激光准直模块等高精度系统。

三、实用技巧:高效运用高度控制与光扇图分析
1.不同像高对应不同入射角
在光学系统中,改变视场高度等于改变主光线倾角;
可利用“Field Type”切换Image Height与Angle模式,适应不同系统布局。
2.多视场组合追迹效果更具参考意义
单视场分析可能掩盖问题;
建议设置中心、半视场、边缘视场共3~5个视场点;
可结合Ray Fan、Spot Diagram、Wavefront分析综合判断系统成像质量。
3.Ray Fan可作为优化目标
可将光扇图结果写入Merit Function;
通过优化折射率、曲率半径、镜片间距等参数,压缩光线偏移;
有助于降低像差,提高分辨率与均匀性。
4.自定义光线组测试高度响应
使用“Single Ray Trace”功能测试某一高度光线穿过系统后的行为;
用于验证对称性或特殊偏心设置下的系统鲁棒性。

四、总结
综上所述,“Zemax怎么操作光线高度数”可通过设置视场点、控制入瞳参数、调整Aperture Stop、追踪特定光线等方式实现,精确分析不同入射高度光线在系统内的行为;“Zemax光线光扇图分析”则是利用Ray Fan图直观展示不同光线在像面上的像差偏移,通过曲线形态判断像差类型,并作为优化依据提升系统性能;只要灵活使用光线高度和光扇图,你就能让Zemax成为光学系统从原理验证到性能调优的高效引擎,助你构建更优质的成像和投光解决方案。